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儀器品牌：帕納科（PANalytical）

儀器型號：X'Pert3Powder

基本功能：

1. 常規(guī)XRD測試;

2. 小角XRD測試；

3. 掠入射GIXRD測試；

4. 殘余應(yīng)力測試

5. 薄膜厚度測試

6. 后期分析（定性定量分析，結(jié)晶度分析等）

儀器主要技術(shù)參數(shù)：

1. 輸出功率：3kW

2. 額定電壓電流：60kV、60mA

3. 光源：點(diǎn)光源、線光源

4. 光管靶材：Cu靶、Cr靶

5. 角度重現(xiàn)性：0.0001°

6. 測量范圍：0度—160度

送樣要求：

1.可測粉末、薄膜、固體樣品

2. 粉末樣品需3g左右，顆粒度達(dá)300目（提供樣品制備服務(wù)）；薄膜厚度需20nm以上；固體樣品測試面平整，所有測試面需要達(dá)到10mm*10mm

聯(lián)系方式：

測試地點(diǎn)：綜合樓205

管理人員：劉界

聯(lián)系電話：18702345115